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  • indigo-spectroscopy2-100nm XUV/EUV 寬帶軟X射線高分辨率光譜儀

    2-100nm XUV/EUV 寬帶軟X射線高分辨率光譜儀 產品總覽 具有高分辨率和效率的多功能光譜儀 隨著在半導體制造中使用 13.5 nm輻射的 EUV 光刻技術的發展,極紫外輻射(EUV、XUV)已成為一個重要的工業意義。這導致對高分辨率和靈敏的診斷和測量技術的需求。

    更新時間:2025-02-12
    產品型號:indigo-spectroscopy
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  • SPECT-100 nir1 近紅外光譜相機(光譜成像單元) 600-1100 nm(機器視覺)

    SPECT-100 nir1 近紅外光譜相機(光譜成像單元) 600-1100 nm(機器視覺) 產品總覽 SPECT-100 vis nir1 nir2型光譜成像單元,光譜成像是一種通過二維捕捉物體,獲取、分析和顯示物體各部分光譜信息的技術。通過光譜分析每個部分的數據,可以獲得材料的物理和化學信息并將其顯示為圖像。

    更新時間:2024-12-08
    產品型號:
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  • 極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) (顯微OCT

    極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) (顯微OCT掃頻測振) 產品總覽 三維無損成像技術在材料科學和醫學等許多應用領域都非常重要。我們開發了一種成像技術,利用極紫外和軟x射線輻射來獲得納米分辨率的橫截面圖像。 例如,我們能夠無損地研究硅片或生物樣品中的近表面結構。

    更新時間:2024-12-08
    產品型號:
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  • 可見光 空間分辨率光譜儀 380-780nm

    可見光 空間分辨率光譜儀 380-780nm 產品總覽 空間分辨率光譜儀SRS1-vis(可見光型)

    更新時間:2024-12-08
    產品型號:
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  • BH-618HS-P20-780軟磁層評價系統 BH-618HS-P20( 顯微鏡/測振/磁光克爾)

    軟磁層評價系統 BH-618HS-P20( 顯微鏡/測振/磁光克爾) 產品總覽 軟磁層的非接觸式評估系統,例如具有映射和傾斜角測量功能的硬盤介質中的 SUL。

    更新時間:2025-02-25
    產品型號:BH-618HS-P20-780
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