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  • PCI-2TE-5-1x1-TO8-wAI2O31-15um 中紅外光浸沒(méi)式MCT兩級(jí)TE冷卻光電導(dǎo)探測(cè)器 PCI-2TE系列 TO8

    1-15um 中紅外光浸沒(méi)式MCT兩級(jí)TE冷卻光電導(dǎo)探測(cè)器 PCI-2TE系列 TO8 PCI-2TE系列是基于復(fù)雜的MCT異質(zhì)結(jié)構(gòu)的兩級(jí)熱電冷卻紅外光電導(dǎo)探測(cè)器,采用光學(xué)浸沒(méi)來(lái)提高器件的性能,具有優(yōu)秀的性能和穩(wěn)定性。

    更新時(shí)間:2025-09-01
    產(chǎn)品型號(hào):PCI-2TE-5-1x1-TO8-wAI2O3
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  • 3μm MCT 中紅外非制冷光電探測(cè)器

    3μm MCT 中紅外非制冷光電探測(cè)器 2.5-6.5μm HgCdTe器件在λ_opt時(shí)達(dá)到好性能。波長(zhǎng)分割可根據(jù)需求進(jìn)行優(yōu)化。反向偏置電壓可以在顯著提高響應(yīng)速度和動(dòng)態(tài)范圍的同時(shí)提高高頻下的性能,但偏置器件中出現(xiàn)的1/f噪聲在低頻下可能會(huì)降低探測(cè)器的性能。

    更新時(shí)間:2024-12-04
    產(chǎn)品型號(hào):
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  • MCT-PEMI-10.6-2×22-12μmMCT 光浸式紅外非冷卻光電磁探測(cè)器

    光電磁MCT紅外光伏探測(cè)器 2.0-12.0um PEMI系列在10.6 μm處探測(cè)性能最佳,是一款特別適用于探測(cè)連續(xù)波和低頻調(diào)制輻射的大感光面探測(cè)器。這款探測(cè)器被安裝在內(nèi)部含有磁性電路的特殊包裝中。3°楔形硒化鋅抗反射涂層(wZnSeAR)窗戶,可以防止不必要的干擾影響和污染。

    更新時(shí)間:2024-12-04
    產(chǎn)品型號(hào):MCT-PEMI-10.6-2×2
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  • MCT四級(jí)TE冷卻光電導(dǎo)探測(cè)器

    1-16μm 中紅外光浸沒(méi)式MCT四級(jí)TE冷卻光電導(dǎo)探測(cè)器 PCI-4TE系列截止波長(zhǎng)受GaAs透過(guò)率(~0.9 μm)的限制。設(shè)備應(yīng)該在好的偏置電壓和電流讀出模式下工作。由于1/f噪聲,在低頻時(shí)探測(cè)器性能降低。

    更新時(shí)間:2024-12-04
    產(chǎn)品型號(hào):
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  • 三級(jí)TE冷卻光電導(dǎo)探測(cè)器

    1-15μm中紅外光浸沒(méi)式MCT三級(jí)TE冷卻光電導(dǎo)探測(cè)器 PCI-3TE系列應(yīng)該在好的偏置電壓和電流讀出模式下工作。由于1/f噪聲,在低頻時(shí)探測(cè)器的性能降低。1/f噪聲角頻率隨截止波長(zhǎng)增大而增大。帶有3°楔狀硒化鋅抗反射涂層(wZnSeAR)窗口,防止不必要的干擾效應(yīng)。

    更新時(shí)間:2024-12-04
    產(chǎn)品型號(hào):
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